Machine vision systems for inspection and metrology VIII - 21-22 September 1999, Boston, Massachusetts

Författare
Bruce G. Batchelor Susan Snell Solomon John W. V. Miller
(John W.V. Miller, Susan Snell Solomon, Bruce G. Batchelor, chairs/editors.)
Genre
Konferenser, Ej skönlitteratur, Konferenspublikation
Språk
Engelska
Förlag År Ort Om boken ISBN
Cop. 1999 USA 252 sidor.